ขั้นตอนการพัฒนา
การทดสอบในขั้นตอนการพัฒนา
การทดสอบระหว่างขั้นตอนการพัฒนา ทำขึ้นที่ SVTC (Storage Validation and Testing Center) ซึ่งเป็นหน่วยงานที่รองรับการทดสอบในขนาดใหญ่ รองรับการทดสอบไดร์ฟพร้อมกันได้กว่าหลายร้อยไดร์ฟพร้อมกัน ด้วยเทคโนโลยีระบบควบคุมระดับชั้นนำของโลก และซอฟต์แวร์พิเศษที่ออกแบบขึ้นโดยเฉพาะ ทำให้สามารถทำการทดสอบด้วยกระบวนการอัตโนมัติได้อย่างมีประสิทธิภาพและแม่นยำ โดยสามารถตรวจสอบได้ถึงทุกระดับพารามิเตอร์ของไดร์ฟฯ โดยสามารถทำการทดสอบพร้อมกันได้ถึงกว่า 400 ไดร์ฟในคราวเดียวกัน
การทดสอบที่ทำให้มั่นใจถึงความเข้ากันได้
ปัจจัยสำคัญอย่างหนึ่งที่จะทำให้แน่ใจได้ว่า ไดร์ฟของเราสามารถทำงานร่วมกับอุปกรณ์ชิ้นอื่นๆ ได้อย่างสมบูรณ์แบบ นั้นคือการทดสอบ เราทดสอบบนเมนบอร์ดของทั้งเครื่องเดสก์ท็อปและโน็ตบุ๊ก 90% มาจากผู้ผลิตคอมพิวเตอร์ชั้นนำระดับโลก เพื่อทำให้แน่ใจได้ว่าไดร์ฟของเราสามารถทำงานได้กับเมนบอร์ดในหลายๆรุ่นที่เป็นที่นิยม และเพื่อให้ได้ทราบถึงข้อจำกัด หรือปัญหาในเรื่องความเข้ากันได้ในเมนบอร์ดบางรุ่น และสามารถแก้ไขได้ทันก่อนที่ตัวไดร์ฟจะถึงมือผู้ใช้งาน โดยยูนิตที่ถูกเลือกใช้ในการทดสอบ ความเข้ากันได้นั้นอยู่ในศูนย์ที่มีการอัพเดตสภาพแวดล้อมในการทดสอบให้ทันกับสภาพตลาดที่เปลี่ยนแปลงอยู่ตลอดเวลา เพื่อให้ไดร์ฟ SSD ของเราสามารถการันตีได้ว่าสามารถทำงานร่วมกับระบบปฏิบัติการต่าง ๆ ได้อย่างราบรื่น เรามีการทดสอบภายใต้ ระบบปฏิบัติการทั้ง Windows, Mac OS และแม้กระทั่ง Linux
การทดสอบกรณีเกิดเหตุอันไม่คาดคิด
จะเกิดอะไรขึ้น หากตัวไดร์ฟต้องพบกับสภาพที่ถูกตัดกระแสไฟฟ้า หรือเกิดกระชากอย่างเฉียบพลัน ตัวไดร์ฟจะตอบสนองอย่างไร เพื่อไม่ให้เกิดการทำงานผิดพลาดในการเปิดใช้งานคราวต่อไป เราทดสอบสภาพแวดล้อมการทำงานที่ผิดปกติ เพื่อดูการตอบสนองของไดร์ฟว่าสามารถตอบสนองได้อย่างถูกต้อง เพื่อป้องกันไม่ให้เกิดความเสียหายต่อข้อมูลและตัวไดร์ฟ
สูตรของการทดสอบที่แสนทรหด
ด้วยความที่เราไม่ยอมที่จะให้เกิดข้อผิดพลาดต่อผลิตภัณฑ์ของเรา ไม่ว่าในกรณีใดก็ตาม เรายึดถือแนวทาง zero-error, zero-failure ในระหว่างการทดสอบที่ทรหดที่สุดของเรา ด้วยการทดสอบกว่า 500 ชั่วโมง ในสภาพแวดล้อมที่มีอุณหภูมิสูงกว่าปกติ โดยในการทดสอบนี้ เราจะนำไดร์ฟ 400 ตัว ทดสอบในห้องที่ควบคุมสภาพแวดล้อมให้ได้อุณหภูมิที่ 60 องศาเซลเซียส และในระหว่างที่นำไดร์ฟเข้าไปในห้องนี้ เราจะป้อนข้อมูลกว่า 36.5 เทราไบต์ ภายใน 48 ชั่วโมงของการทดสอบ เพื่อทำการทดสอบการอ่านและเขียน และนำไดร์ฟเข้าสู่สภาพ sleep/wake สลับกันในช่วงเวลา 5 นาทีสลับกันไป จนครบ และหลังจากนั้น ทำการทดสอบ cold boot และ warm boot ต่อเนื่อง 250 ครั้ง หากพบข้อผิดพลาด ในขั้นตอนใด ๆ ทีมทดสอบจะหยุดการทดสอบและหาต้นตอที่ก่อให้เกิดปัญหา และแก้ปัญหานั้นในทันที หลังจากนั้น จะเริ่มการทดสอบใหม่ทั้งหมด
การผลิต
ทดสอบในทุกขั้นตอนการผลิต
ตั้งแต่ที่ชิ้นส่วนของไดร์ฟเดินทางเข้ามาในโรงงานของเรา วิศวกรของเราได้ทำการทดสอบในทุกๆแง่มุม ที่จะให้แน่ใจได้ว่า ผลิตภัณฑ์สุดท้ายที่ออกจากสายการผลิตของเราจะได้คุณภาพตามเป้าหมายที่เราตั้งไว้ ผ่านกระบวนการทดสอบของทีมทดสอบในแบบ Total Quality management และไดร์ฟทุกตัวที่ออกจากสายการผลิต จะต้องผ่านการทดสอบเบิร์นอินเป็นระยะเวลานาน และทดสอบใช้งานอย่างหนักหน่วง
ผ่านการทดสอบ burned-in แล้วทุกตัว 100%
ด้วยความที่มีเซลล์ของ NAND Flash กว่าพันล้านเซลล์ ที่นำมาใช้ในอุปกรณ์ที่เราผลิต และต้องมีเซลล์บางเซลล์ที่ไม่สามารถทำงานได้อย่างมีเสถียรภาพ การทดสอบในภาวะความร้อนสูง การเบิร์นอิน และทดสอบอายุ จะทำให้สามารถระบุเซลล์ที่ไม่สามารถนำมาใช้งานได้ (ไม่เสถียร) เพื่อให้แน่ใจถึงเสถียรภาพและคุณภาพของตัวไดร์ฟสูงสุดก่อนที่ลูกค้าของเราจะนำไปใช้งานเก็บข้อมูลใด ๆ ทั้งด้วยการทดสอบเบิร์นอิน และทดสอบใช้งานอย่างหนักหน่วง
ทำไมถึงต้องทดสอบ
คำตอบนั้นง่ายมาก เพราะเราต้องการให้ไดร์ฟของเราทุกตัวที่ออกจากสายการผลิต มีเสถียรภาพในการทำงานที่ดี และเชื่อถือได้ในระดับสูงสุด